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    2015-11

    四探針電阻率測試儀儀器參數設定介紹

    四探針電阻率測試儀是一種采用四探針、三探針和擴展電阻的電阻率測試儀,四探針電阻率測試儀一般目前的四探針電阻率(電導率)測試儀均已配置厚度的修正,通過厚度數值的設置,計算出不同的樣品厚度對電阻率的影響。數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,zui常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上,并且間距相等,都是S,一般采用0.5mm的間距,不同的探針間距需要對測量結果做相應的校正。四探針電阻率測試儀可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(...
  • 29

    2015-10

    微量水分測定儀使用方法

    微量水分測定儀使用說明書,全面詳細介紹了儀器使用、裝配、維護過程和步驟,但為了客戶能夠快速方便使用,特將儀器調試、新電解液平衡點調整的步驟簡單介紹如下:1、開箱后,檢查配件是否齊全。2、將固定電解池用(不同型號夾持器不同)夾持器,在主機上安裝并旋緊。3、將電解池從鈣塑盒中小心取出,將2支電極,干燥管(嵌入在鈣塑盒中),進樣旋塞,電解池瓶塞取出,在所有磨口處涂很少一點真空脂或凡士林待用。4、進樣旋塞中間硅橡膠墊已經裝好,*次扎入進樣針時,很難扎入,可用硬針頭先反復扎幾次,也可將...
  • 23

    2015-10

    粉體特性綜合測試儀休止角等是如何測定計算的

    粉體特性綜合測試儀常見的應用就是測定計算休止角,崩潰角等的數據,那么是如何計算的呢?小編給大家簡單介紹一下。粉體特性綜合測試儀測定數據的過程:休止角(θr)、崩潰角(θf)、差角(θd)的測定:1、放置休止角器具:將休止角出料漏斗安裝到測試室頂部并固定,將減震平臺放置zui底部,依次將溢料盤和休止角試樣臺放到減震平臺上。如果發現休止角試樣臺不水平,請調整減振器上的三個螺絲的高度,使休止角試樣臺的上平面處于水平狀態。2、加料:關閉儀器前門,準備好試樣,將定時器調到3分鐘左右,開...
  • 9

    2015-10

    粉體綜合特性測試儀測定項目與定義

    1、振實密度振實密度是指粉體裝填在特定容器后,對容器進行振動,從而破壞粉體中的空隙,使粉體處于緊密填充狀態后的密度。通過測量振實密度可以知道粉體的流動性和空隙率等數據。一般情況下粉體的振實密度小于粉體中單顆顆粒的真實米蘇(注:金屬粉等特殊粉體的振實密度按相應的標準執行、。2、松裝密度松裝密度是指粉體在特定容器中處于自然充滿狀態后的密度。該指標對存儲容器和包裝袋的設計很重要。(注:金屬粉等特殊粉體的松裝密度按相應的標準執行、。3、休止角粉體堆積層的自由表面在靜平衡狀態下,與水平...
  • 28

    2015-9

    應用較廣的粉末休止角測定儀

    粉末休止角測定儀廣泛用于制藥、工業化學、洗滌、科研院校、質檢機構等等相關粉末粉體及顆粒材料之檢測;可以提供粉體儲藏性質的變化,特別是在料倉中儲存情況等。FT-104B粉末休止角測定儀該儀器適用于無團塊粉狀或顆粒狀表面活性劑和洗衣粉的休止角的常規測定,也可用于具有類似性質的其他粉體和顆粒的休止角測量。物料在規定的條件下流動得到的圓錐體基角稱為休止角。粉末休止角測定儀在制藥行業中顆粒的休止角,是指松堆積時料堆的圓錐斜面與水平角所夾的角。反映了顆粒摩擦力或顆粒群流動性的大小程度。對...
  • 24

    2015-9

    淺析粉體特性綜合測試儀的存在意義

    粉體特性綜合測試儀是一種多功能的粉體特性測試儀。它的存在具有重要的意義,粉體特性綜合測試儀用于對粉體流動特性進行研究和表征的領域。粉體特性綜合測試儀主要用于大專院校、科研機構的材料科學研究領域,在與粉體流動特性相關的生產領域也將有廣泛的應用前景。粉體特性綜合測試儀研制成功為粉體特性測試的普遍開展提供了一個新的測試手段。粉體特性綜合測試儀的測試項目包括粉體的振實密度、松裝密度、安息角、抹刀角、崩潰角、差角、分散度、凝集度、流動度等項目。粉體特性綜合測試儀具有一機多用、操作簡便、...
  • 14

    2015-9

    電阻率測試儀技術介紹

    電阻率測試儀是電阻率監視儀,電阻率和溫度同時顯示,并具有電阻率低限報警功能的在線面板式儀表,廣泛應用于制藥、電子、化工等行業對工業流程水質的在線監測。它采用了單片機技術,對純水的溫度系數、電極常數及電阻率低限報警點通過面板上的按鍵自由設置,是各種中小型純水設備的理想配套儀表。寧波江北瑞柯偉業儀器生產的FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準(ASTMF84)及標準設計制造該儀器設計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T155...
  • 8

    2015-9

    半導體電阻率測試儀穩定性強,適用范圍廣

    半導體電阻率測試儀是為了適應當前迅速發展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關標準設計的。半導體電阻率測試儀是根據四探針原理,適合半導體器材廠,材料廠用于測量半導體材料(片狀、棒狀)的體電阻率,方塊電阻(簿層電阻),也可以用作測量金屬薄層電阻,經過對用戶、半導體廠測試的調查,根據美國ASTM標準的規定,在電路和探頭方面作了重大的修改和技術上的許多突破,它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要,成為普及型的電阻率測試儀,具有...
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