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方阻測試儀

簡要描述:FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能

  • 產品型號:FT-340系列
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-06-13
  • 訪  問  量:2190
詳細介紹
品牌ROOKO/瑞柯價格區間1萬-3萬
自動化度半自動產地類別國產
應用領域醫療衛生,能源,電子,印刷包裝,航天

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,

適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。

 

采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,

同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。

該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,

對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀

它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。

廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、

合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、

電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜,

EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,

抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等

 

規格型號

FT-341

FT-342

FT-343

FT-345

FT-346

FT-347

1.方塊電阻范圍

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×103Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×103Ω/□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×103Ω/□

2.電阻率范圍

10-6~2×106Ω-cm

10-5~2×104-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×104-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

3.測試電流范圍

0.1μA,μA,0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

0.1μA,μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度

±0.1%讀數

±0.2%讀數

±0.2%讀數

±0.3%讀數

±0.3%讀數

±0.3%讀數

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數

大屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式

雙電測量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差

≤3%(標準樣片結果)

10.選購功能

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭

探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業.

專業與精致并重;與智慧之原

 


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